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當前位置：首頁(yè)產(chǎn)品中心專(zhuān)用儀器儀表DP-FD-ZM-B塞曼效應實(shí)驗儀（電磁型）

塞曼效應實(shí)驗儀（電磁型）

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塞曼效應實(shí)驗儀（電磁型） 型號：DP-FD-ZM-B
1896年,荷蘭物理學(xué)家塞曼（P.Zeeman）發(fā)現當光源放在足夠強的磁場(chǎng)中時(shí)，原來(lái)的條光譜線(xiàn)分裂成幾條光譜線(xiàn)，分裂的譜線(xiàn)成分是偏振的，分裂的條數隨能級的類(lèi)別而不同，后人稱(chēng)此現象為塞曼效應。 塞曼效應是繼英物理學(xué)家法拉1845年發(fā)現磁致旋光效應，克爾1876年發(fā)現磁光克爾效應之后，發(fā)現的又個(gè)磁光效應。

產(chǎn)品型號：DP-FD-ZM-B
更新時(shí)間：2015-06-06
廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
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塞曼效應實(shí)驗儀(電磁型) 型號：DP-FD-ZM-B
塞曼效應實(shí)驗儀(電磁型) 型號：DP-FD-ZM-B1896年,荷蘭物理學(xué)家塞曼(P.Zeeman)發(fā)現當光源放在足夠強的磁場(chǎng)中時(shí)，原來(lái)的條光譜線(xiàn)分裂成幾條光譜線(xiàn)，分裂的譜線(xiàn)成分是偏振的，分裂的條數隨能級的類(lèi)別而不同，后人稱(chēng)此現象為塞曼效應。 塞曼效應是繼英物理學(xué)家法拉1845年發(fā)現磁致旋光效應，克爾1876年發(fā)現磁光克爾效應之后，發(fā)現的又個(gè)磁光效應。 塞曼效應不僅證實(shí)了洛侖茲電子論的準確性，而且為 湯姆遜 發(fā)現電子提供了證據。還證實(shí)了原子具有磁矩并且空間取向是量子化的。1902年，塞曼與洛侖茲因這發(fā)現共同獲得了諾貝爾物理學(xué)獎。直到今日，塞曼效應仍舊是研究原子能級結構的重要方法。
　　塞曼效應實(shí)驗儀(電磁型) 型號：DP-FD-ZM-B FD-FZ-I型塞曼效應實(shí)驗儀具有磁場(chǎng)穩定，測量方便，實(shí)驗分裂環(huán)清晰等特點(diǎn)，適用于等院校近代物理實(shí)驗和性實(shí)驗。
　　應用該實(shí)驗儀主要成以下實(shí)驗：
　　1．掌握觀(guān)測塞曼效應的實(shí)驗方法， 加深對原子磁矩及空間量子化等原子物理學(xué)概念的理解。
　　2．觀(guān)察汞原子 546.1nm譜線(xiàn)的分裂現象以及它們偏振狀態(tài)，由塞曼裂距計算電子荷質(zhì)比。
　　3．學(xué)習法布里-珀羅標準具的調節方法
　　4．學(xué)習CCD器件在光譜測量中的應用。（其中CCD器件、采集系統及實(shí)驗分析軟件選購）
　　塞曼效應實(shí)驗儀(電磁型) 型號：DP-FD-ZM-B儀器主要參數：
　　1. 電磁鐵 zui大磁感應強度 1.28T 勵磁電源 zui大輸出電流 5A zui大輸出電壓 30V
　　2．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm
　　3．法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm
　　4．干涉濾光片 中心波長(cháng) 546.1nm
　　5. 讀數顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍8mm 







法拉效應塞曼效應綜合實(shí)驗儀 型號；DP-FD-FZ-C
1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現象和光學(xué)現象之間的時(shí)，發(fā)現了種現象，當束平面偏振光穿過(guò)介質(zhì)時(shí)，如果在介質(zhì)中，沿光的傳播方向上加個(gè)磁場(chǎng)，就會(huì )觀(guān)察到光經(jīng)過(guò)樣品后偏振面轉過(guò)個(gè)角度，亦即磁場(chǎng)使介質(zhì)具有了旋光性，這種現象后來(lái)稱(chēng)為法拉效應。1896年,荷蘭物理學(xué)家塞曼(P.Zeeman)發(fā)現當光源放在足夠強的磁場(chǎng)中時(shí)，原來(lái)的條光譜線(xiàn)分裂成幾條光譜線(xiàn)，分裂的譜線(xiàn)成分是偏振的，分裂的條數隨能級的類(lèi)別而不同，后人稱(chēng)此現象為塞曼效應。法拉效應和塞 曼 效應是19紀實(shí)驗物理學(xué)家的重要成就之，它們有力的支持了光的電磁理論。
　　本公司的DP- FD-FZ-C型法拉效應塞 曼 效應綜合實(shí)驗儀是在I型的基礎上改而成，將原來(lái)維調節的氦氖激光器改為兩維調節的半導體激光器，這樣成法拉效應時(shí)調節更加準確方便，并且激光輸出率更加穩定。電磁鐵中心磁場(chǎng)強度也比以前有了顯著(zhù)提，zui大可以達到1.4T。測角儀器將原來(lái)的游標測量的方法改為螺旋測微（將角位移轉換為直線(xiàn)位移），這樣讀數更加方便。該實(shí)驗儀可以作為大專(zhuān)院校光學(xué)及近代物理實(shí)驗教學(xué)使用，也可以作為測量材料特性、 光譜及磁光 作用的研究應用。
　　儀器主要參數：
　　1. 半導體激光器 波長(cháng) 650nm 輸出率 >1.5mW 光斑直徑 約1mm
　　2. 電磁鐵 zui大磁感應強度約1.35T（與勵磁電源有關(guān)）
　　3. 勵磁電源 zui大輸出電流 5A zui大輸出電壓 30V
　　4．低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm
　　5．法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm
　　6．讀數顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍 8mm
　　7．法拉效應 zui小測角約 2分 






法拉－塞曼效應綜合實(shí)驗儀 型號；DP-FD-FZ-I
1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現象和光學(xué)現象之間的時(shí)，發(fā)現了種現象，當束平面偏振光穿過(guò)介質(zhì)時(shí)，如果在介質(zhì)中，沿光的傳播方向上加個(gè)磁場(chǎng)，就會(huì )觀(guān)察到光經(jīng)過(guò)樣品后偏振面轉過(guò)個(gè)角度，亦即磁場(chǎng)使介質(zhì)具有了旋光性，這種現象后來(lái)稱(chēng)為法拉效應。1896年,荷蘭物理學(xué)家塞曼(P.Zeeman)發(fā)現當光源放在足夠強的磁場(chǎng)中時(shí)，原來(lái)的條光譜線(xiàn)分裂成幾條光譜線(xiàn)，分裂的譜線(xiàn)成分是偏振的，分裂的條數隨能級的類(lèi)別而不同，后人稱(chēng)此現象為塞曼效應。法拉效應和塞 曼 效應是19紀實(shí)驗物理學(xué)家的重要成就之，它們有力的支持了光的電磁理論，隨著(zhù)現代的發(fā)展，這兩種經(jīng)典的實(shí)驗效應被廣泛應用于激光、磁光及凝聚 態(tài)域 。
　　本公司的 DP-FD-FZ-I型法拉效應塞 曼 效應綜合實(shí)驗儀是將兩種實(shí)驗效應合理地整合成臺、多測量實(shí)驗教學(xué)儀器。應用該實(shí)驗儀可以成法拉效應和塞曼效應的轉換測量，學(xué)習磁光作用的特性。該實(shí)驗儀可以作為大專(zhuān)院校光學(xué)及近代物理實(shí)驗教學(xué)使用，也可以作為測量材料特性、 光譜及磁光 作用的研究應用。
　　儀器主要參數：
　　1.氦氖激光器 波長(cháng) 632.8nm 輸出率 >1.5mW 光斑直徑 2.6mm
　　2.電磁鐵 zui大磁感應強度 1.28T
　　3.勵磁電源 zui大輸出電流 5A zui大輸出電壓 30V
　　4.低壓汞燈 啟輝電壓 1500V 燈管直徑 6.5mm
　　5.法布里－珀羅標準 通光口徑 40mm 間隔 2mm
　　6.干涉濾光片 中心波長(cháng) 546.1nm
　　7.讀數顯微鏡 分辨率 0.01mm 測量范圍 8mm
　　8.法拉效應 zui小測角 2分  





磁光效應綜合實(shí)驗儀（法拉效應和磁光調制） 型號；DP-FD-MOC-A
1945年，法拉（Faraday）在探索電磁現象和光學(xué)現象之間的時(shí)，發(fā)現了種現象，當束平面偏振光穿過(guò)介質(zhì)時(shí)，如果在介質(zhì)中，沿光的傳播方向上加個(gè)磁場(chǎng)，就會(huì )觀(guān)察到光經(jīng)過(guò)樣品后偏振面轉過(guò)個(gè)角度，亦即磁場(chǎng)使介質(zhì)具有了旋光性，這種現象后來(lái)稱(chēng)為法拉效應。
　　法拉效應有許多應用，它可以作為物質(zhì)研究的手段，可以用來(lái)測量載流子的有效質(zhì)量和提供能帶結構的知識，還可以用來(lái)測量電路中的電流和磁場(chǎng)，特別是在激光中，利用法拉效應的特性可以制成光隔離器、光環(huán)形器和調制器等。
　DP-FD-MOC-A型磁光效應綜合實(shí)驗儀，是臺綜合研究磁光效應的實(shí)驗儀器，通過(guò)該實(shí)驗儀可以學(xué)習法拉效應的原理，并通過(guò)偏振光正交消光法測量樣品的費爾德常數，還可以通過(guò)磁光調制的方法確定消光位置，從而提測量度，這種由淺入深的測量方法使學(xué)生理解測量的科學(xué)方法。并通過(guò)調制的方法可以確測量不同磁光樣品的光學(xué)特性和特征參量，另外該儀器可以顯示磁光調制波形，觀(guān)測磁光調制現象，研究調制幅度和調制深度的原理。本儀器有下列特性：1）可對磁光效應差異懸殊的多種磁光介質(zhì)行實(shí)驗；2）具有大幅度的交流調制信號和直流勵磁，且穩流勵磁正負連續可調；3）光強輸出大小用數字顯示，確直觀(guān)；4）調制光接收靈敏度，輸出波形穩定；5）檢偏裝置帶游標測角機構，分辨率。
　　儀器主要參數：
　　1．磁光介質(zhì) 法拉旋光玻璃
　　2．激光光源 半導體激光器（波長(cháng)650nm）輸出率 <2.5mW
　　3．直流勵磁電流 0—5A(連續可調，數字顯示)
　　4．調制信號 頻率500Hz(正弦波)
　　5．起偏器角度分辨率 1度
　　6．檢偏分辨率 約3分 




微波鐵磁共振實(shí)驗儀 型號；DP-FD-FMR-A
鐵磁共振在磁學(xué)乃至固體物理學(xué)中都占有重要地位，它是微波鐵氧體物理學(xué)的基礎。微波鐵氧體在雷達和微波通訊方面都已經(jīng)獲得重要應用。DP-FD-FMR-A 型微波鐵磁共振實(shí)驗儀是用來(lái)成鐵氧體樣品鐵磁共振曲線(xiàn)測量實(shí)驗教學(xué)的近代物理實(shí)驗儀器，它主要用來(lái)測量 YIG 單晶和多晶樣品的共振譜線(xiàn)，測量 g 因子、旋磁比γ 、 共振線(xiàn)寬ΔH 以及弛豫時(shí)間 τ ， 并分析微波系統的特性。該儀器具有測量準確、穩定可靠、實(shí)驗內容豐富等優(yōu)點(diǎn)，可以用于物理年級學(xué)生專(zhuān)業(yè)實(shí)驗以及近代物理實(shí)驗。
儀器主要成以下實(shí)驗：
1． 了解和掌握各個(gè)微波 器件的能及其調節方法，了解鐵磁共振的測量原理和實(shí)驗條件，通過(guò)觀(guān)測鐵磁共振現象認識磁共振的般特性。
2．通過(guò)示波器觀(guān)察YIG多晶小的鐵磁共振信號，確定共振磁場(chǎng)，根據微波頻率計算單晶樣品的g因子和旋磁比 γ。
3．通過(guò)數字式檢流計測量諧振腔輸出率與磁場(chǎng)的關(guān)系，描繪共振曲線(xiàn)，確定共振磁場(chǎng)Hγ，并根據測量曲線(xiàn)確定共振線(xiàn)寬ΔH ，估算 YIG多晶樣品的弛豫時(shí)間 τ。
4．測量已經(jīng)定向的YIG單晶樣品共振磁場(chǎng)與θ 的關(guān)系，確定易磁化軸共振磁場(chǎng) H0[111] 與難磁化軸共振磁場(chǎng) H0[001]的大小，計算各向異性常數 K1 與 g 因子。
儀器主要參數：
1．微波頻率計 測量范圍 8.2GHz-12.4GHz 分辨率 0.005GHz
2．數字式斯計 量程：20000Gs 分辨率 1Gs
3．勵磁電源：0－6V 連續可調，分辨率0.01V
4. 調制磁場(chǎng)： 50Hz，0－16V（峰峰值）連續可調
5. 檢流計： 20mA檔 分辨率0.01mA 2mA檔 分辨率0.001mA  


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