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  • DP-WSP-51方塊電阻/電阻率四探針測試儀/便攜式四探針檢測儀 亞歐

    DP-WSP-51數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率,擴散層的薄層電阻(亦稱(chēng)方塊電阻)。

    更新時(shí)間:2017-08-08
    產(chǎn)品型號:DP-WSP-51
    瀏覽量:1657
  • DP17397強迫對流空氣橫掠平板放熱系數測試裝置

    強迫對流空氣橫掠平板放熱系數測試裝置實(shí)驗目的: 測定空氣橫向流過(guò)平板表面時(shí)的放熱系數;根據對受強迫運動(dòng)放熱過(guò)程的相似分析,將實(shí)驗數據整理成準則方程式。

    更新時(shí)間:2022-07-01
    產(chǎn)品型號:DP17397
    瀏覽量:2022
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