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專(zhuān)用儀器儀表
010-51298264
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四探針測試儀在材料科學(xué)研究中的關(guān)鍵作用
DP-WSP-51數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率,擴散層的薄層電阻(亦稱(chēng)方塊電阻)。
強迫對流空氣橫掠平板放熱系數測試裝置實(shí)驗目的: 測定空氣橫向流過(guò)平板表面時(shí)的放熱系數;根據對受強迫運動(dòng)放熱過(guò)程的相似分析,將實(shí)驗數據整理成準則方程式。
服務(wù)熱線(xiàn):15313602957